文献
J-GLOBAL ID:200902117765925963
整理番号:01A0830263
Siに関する電子誘導表面応力緩和
Electron-stimulated surface stress relaxation of Si.
著者 (4件):
NARUSHIMA T
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
ITAKURA A N
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
,
KAWABE T
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
KITAJIMA M
(National Inst. Materials Sci., Ibaraki, JPN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
79
号:
5
ページ:
605-607
発行年:
2001年07月30日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)