文献
J-GLOBAL ID:200902117938226888
整理番号:96A0104091
コヒーレント高エネルギーシンクロトロン放射を用いたX線位相差顕微撮像法の可能性
On the possibilities of x-ray phase contrast microimaging by coherent high-energy synchrotron radiation.
著者 (5件):
SNIGIREV A
(ESRF, Grenoble, FRA)
,
SNIGIREVA I
(ESRF, Grenoble, FRA)
,
KOHN V
(Russian Res. Centre, “Kurchatov Inst.”, Moscow, SUN)
,
KUZNETSOV S
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
,
SCHELOKOV I
(Inst. Microelectronics Technol., RAS, Moscow, SUN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
66
号:
12
ページ:
5486-5492
発行年:
1995年12月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)