文献
J-GLOBAL ID:200902117964071680
整理番号:93A0851229
NA and σ Optimization for High NA I-line Lithography.
著者 (4件):
YAMANAKA K
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
IWASAKI H
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
NOZUE H
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
,
KASAMA K
(NEC Corp., Kanagawa, JPN)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
1927
号:
Pt 1
ページ:
310-319
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)