文献
J-GLOBAL ID:200902118440740084
整理番号:03A0069733
高濃度りんドープシリコンの乾燥酸素中での初期酸化現象
Initial oxidation phenomena of heavily phosphorus-doped silicon in dry oxygen.
著者 (5件):
KAMIURA Y
(Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN)
,
HASEGAWA K
(Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN)
,
SANO Y
(Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN)
,
MIZOKAWA Y
(Osaka Prefecture Univ., Sakai, JPN)
,
KAWAMOTO K
(Denso Co., Ltd., Kariya, JPN)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
20
号:
6
ページ:
2187-2191
発行年:
2002年11月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)