文献
J-GLOBAL ID:200902119904105227
整理番号:97A0194299
角度制限型の投影電子ビームリソグラフィー概念証明システムを用いた原型投影電子ビームステッパ散乱の予備的結果
Preliminary results from a prototype projection electron-beam stepper-scattering with angular limitation projection electron beam lithography proof-of-concept system.
著者 (9件):
HARRIOTT L R
(Bell Lab., New Jersey)
,
BRADY K
(Bell Lab., New Jersey)
,
CONNELLY W F
(Bell Lab., New Jersey)
,
DIMARCO R
(Bell Lab., New Jersey)
,
HOPKINS L
(Bell Lab., New Jersey)
,
KRAUS J S
(Bell Lab., New Jersey)
,
PEABODY M L
(Bell Lab., New Jersey)
,
WERDER K S
(Bell Lab., New Jersey)
,
WINDT D
(Bell Lab., New Jersey)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻:
14
号:
6
ページ:
3825-3828
発行年:
1996年11月
JST資料番号:
E0974A
ISSN:
1071-1023
CODEN:
JVTBD9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)