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著者 (3件)：
資料名：
巻： 35 号： 5B ページ： 2916-2920 発行年： 1996年05月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902120086880544
整理番号：96A0627790
表面欠陥の光音響顕微鏡による観察と欠陥深さの定量評価
Observation of Surface Defects using Photoacoustic Microscope and Quantitative Evaluation of the Defect Depth.
HOSHIMIYA T
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
,
ENDOH H
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
,
HIWATASHI Y
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 35 号： 5B ページ： 2916-2920 発行年： 1996年05月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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