文献
J-GLOBAL ID:200902121597108943
整理番号:03A0088495
小エネルギプラズマ強化CVD蒸着のグレーデッドバッファ層を用いたヘテロエピタキシャルGe-on-Siによるギガヘルツ光検出器の製作とモデリング
Fabrication and Modeling of Gigahertz Photodetectors in Heteroepitaxial Ge-on-Si Using a Graded Buffer Layer Deposited by Low Energy Plasma Enhanced CVD.
著者 (9件):
JONES R E
(Motorola, TX, USA)
,
THOMAS S G
(Motorola, AZ, USA)
,
BHARATAN S
(Motorola, AZ, USA)
,
ROSENBLAD C
(Unaxis Balzers Ltd., LIE)
,
RAMM J
(Unaxis Balzers Ltd., LIE)
,
ISELLA G
(ETH Zuerich, Zuerich, CHE)
,
VON KAENEL H
(ETH Zuerich, Zuerich, CHE)
,
OH J
(Univ. Texas, TX, USA)
,
CAMPBELL J C
(Univ. Texas, TX, USA)
資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting
(Technical Digest. International Electron Devices Meeting)
巻:
2002
ページ:
793-796
発行年:
2002年
JST資料番号:
C0829B
ISSN:
0163-1918
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)