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資料名：
巻： 41 号： 5B ページ： 3361-3362 発行年： 2002年05月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902123035416478
整理番号：02A0555297
光音響顕微鏡法による表層欠陥形状の測定
Ultrasonic Electronics. Measurement of Subsurface Defect Shape by Photoacoustic Microscopy.
ENDOH H
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
,
MIYAMOTO K
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
,
HIWATASHI Y
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
,
HOSHIMIYA T
(Tohoku Gakuin Univ., Tagajyo, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 41 号： 5B ページ： 3361-3362 発行年： 2002年05月30日
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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