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文献
J-GLOBAL ID:200902123599759626   整理番号:01A0207010

PCB端近傍のトレースに由来するEMIのFDTDおよびFEM/MOMモデリング

FDTD and FEM/MOM Modeling of EMI Resulting from a Trace Near a PCB Edge.
著者 (8件):
BERG D
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
TANAKA M
(Akita Univ., Akita, JPN)
JI Y
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
YE X
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
DREWNIAK J L
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
HUBING T H
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
DUBROFF R E
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
VAN DOREN T P
(Univ. Missouri-Rolla, MO)

資料名:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility  (IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)

巻: 2000  号: Vol.1  ページ: 135-140  発行年: 2000年 
JST資料番号: E0041A  ISSN: 2158-110X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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