文献
J-GLOBAL ID:200902123599759626
整理番号:01A0207010
PCB端近傍のトレースに由来するEMIのFDTDおよびFEM/MOMモデリング
FDTD and FEM/MOM Modeling of EMI Resulting from a Trace Near a PCB Edge.
著者 (8件):
BERG D
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
TANAKA M
(Akita Univ., Akita, JPN)
,
JI Y
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
YE X
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
DREWNIAK J L
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
HUBING T H
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
DUBROFF R E
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
,
VAN DOREN T P
(Univ. Missouri-Rolla, MO)
資料名:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility
(IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility)
巻:
2000
号:
Vol.1
ページ:
135-140
発行年:
2000年
JST資料番号:
E0041A
ISSN:
2158-110X
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)