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資料名：
巻： 344 号： 1/2 ページ： 13-17 発行年： 2001年08月17日
JST資料番号： B0824A ISSN： 0009-2614 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902124865390680
整理番号：01A0889990
炭素ナノチューブの配列度のX線回折法による特性化
X-ray diffraction characterization on the alignment degree of carbon nanotubes.
CAO A
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
XU C
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
LIANG J
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
WU D
(Tsinghua Univ., Beijing, CHN)
,
WEI B
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY, USA)
資料名：
Chemical Physics Letters
(Chemical Physics Letters)
巻： 344 号： 1/2 ページ： 13-17 発行年： 2001年08月17日
JST資料番号： B0824A ISSN： 0009-2614 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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