文献
J-GLOBAL ID:200902125875049738
整理番号:95A0627448
BCl3プラズマ中でのマグネトロン反応性イオンエッチングによるGaNの高エッチ速度
High etch rates of GaN with magnetron reactive ion etching in BCl3 plasmas.
著者 (4件):
MCLANE G F
(U.S. Army Res. Lab., New Jersey)
,
CASAS L
(U.S. Army Res. Lab., New Jersey)
,
PEARTON S J
(Univ. Florida, Florida)
,
ABERNATHY C R
(Univ. Florida, Florida)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
66
号:
24
ページ:
3328-3330
発行年:
1995年06月12日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)