文献
J-GLOBAL ID:200902126685159320
整理番号:97A0916319
樹脂封止半導体パッケージの接着強度評価
Adhesive Strength Integrity Evaluation of Resin Encapsulated Semiconductor Package.
著者 (8件):
川村法靖
(東芝 研開セ)
,
広畑賢治
(東芝 研開セ)
,
川上崇
(東芝 研開セ)
,
沢田佳奈子
(東芝 半導体生産技術推進セ)
,
三野利一
(東芝 半導体生産技術推進セ)
,
黒須篤
(東芝 半導体生産技術推進セ)
,
高野英治
(東芝 半導体生産技術推進セ)
,
YOO H Y
(Anam Industrial Co., LTD., Seoul, KOR)
資料名:
回路実装学会誌
(Journal of Japan Institute for Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)
巻:
12
号:
6
ページ:
429-435
発行年:
1997年09月
JST資料番号:
X0497A
ISSN:
1341-0571
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)