文献
J-GLOBAL ID:200902127155824478
整理番号:99A0870520
高分解能Rutherford後方散乱分光によるGe/Si(001)界面における相互混合の直接観察
Direct Observation of Intermixing at Ge/Si(001) Interfaces by High-Resolution Rutherford Backscattering Spectroscopy.
著者 (3件):
NAKAJIMA K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KONISHI A
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
KIMURA K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
資料名:
Physical Review Letters
(Physical Review Letters)
巻:
83
号:
9
ページ:
1802-1805
発行年:
1999年08月30日
JST資料番号:
H0070A
ISSN:
0031-9007
CODEN:
PRLTAO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)