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文献
J-GLOBAL ID:200902128728083563   整理番号:94A0873139

レーザプラズマ分光法で固体環境試料を痕跡元素分析するための検出装置

Detector for Trace Elemental Analysis of Solid Environmental Samples by Laser Plasma Spectroscopy.
著者 (5件):
WISBRUN R
(Technical Univ. Munich, Munich, DEU)
NIESSNER R
(Technical Univ. Munich, Munich, DEU)
SCHECHTER I
(Technion-Israel Inst. Technology, Haifa, ISR)
SCHROEDER H
(Max Planck Inst. Quantum Optics, Garching,DEU)
KOMPA K L
(Max Planck Inst. Quantum Optics, Garching,DEU)

資料名:
Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)

巻: 66  号: 18  ページ: 2964-2975  発行年: 1994年09月15日 
JST資料番号: A0395A  ISSN: 0003-2700  CODEN: ANCHAM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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