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著者 (8件)：
資料名：
巻： 144/145 ページ： 505-509 発行年： 1999年04月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902128760029988
整理番号：99A0614426
測定型原子間力顕微鏡による精確なトポグラフィック像
Accurate topographic images using a measuring atomic force microscope.
GONDA S
(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)
,
DOI T
(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)
,
KUROSAWA T
(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)
,
TANIMURA Y
(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)
,
HISATA N
(Olympus Optical, Tokyo, JPN)
,
YAMAGISHI T
(Olympus Optical, Tokyo, JPN)
,
FUJIMOTO H
(Olympus Optical, Tokyo, JPN)
,
YUKAWA H
(Olympus Optical, Tokyo, JPN)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 144/145 ページ： 505-509 発行年： 1999年04月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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