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文献
J-GLOBAL ID:200902130322030463   整理番号:01A0700106

水素プラズマ処理によるSi上の3C-SiC中の深い準位の不動態化

Passivation of Deep Levels in 3C-SiC on Si by a Hydrogen Plasma Treatment.
著者 (7件):
KATO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
SOBUE F
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
ICHIMURA M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
ARAI E
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
YAMADA N
(Toyota Central Res. and Dev. Lab. Inc., Aichi, JPN)
TOKUDA Y
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)
OKUMURA T
(Tokyo Metropolitan Univ., Tokyo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 40  号: 4B  ページ: 2983-2986  発行年: 2001年04月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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