文献
J-GLOBAL ID:200902131108138946
整理番号:99A0245994
パラジウム/極薄酸化物/ケイ素構造の水素誘起界面トラップ
Hydrogen-Induced Interface Traps in a Palladium/Very Thin Oxide/Silicon Structure.
著者 (1件):
ITO K
(Shinshu Univ., Nagano, JPN)
資料名:
Sensors and Materials
(Sensors and Materials)
巻:
11
号:
1
ページ:
41-50
発行年:
1999年
JST資料番号:
L0338A
ISSN:
0914-4935
CODEN:
SENMER
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)