文献
J-GLOBAL ID:200902131254483205
整理番号:99A0210458
一電子酸化によるDNA損傷のホットスポットの地図化 長距離ホール移動でのトラップとしてのGGダブレットとGGGトリプレットの効力
Mapping of the Hot Spots for DNA Damage by One-Electron Oxidation: Efficacy of GG Doublets and GGG Triplets as a Trap in Long-Range Hole Migration.
著者 (6件):
SAITO I
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
NAKAMURA T
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
NAKATANI K
(Kyoto Univ., Kyoto, JPN)
,
YOSHIOKA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
YAMAGUCHI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SUGIYAMA H
(Tokyo Medical & Dental Univ., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of the American Chemical Society
(Journal of the American Chemical Society)
巻:
120
号:
48
ページ:
12686-12687
発行年:
1998年12月09日
JST資料番号:
C0254A
ISSN:
0002-7863
CODEN:
JACSAT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)