文献
J-GLOBAL ID:200902131633833280
整理番号:00A0923730
高品質のほう素ドープ多結晶ダイヤモンド薄膜電極の標準電気化学挙動
Standard Electrochemical Behavior of High-Quality, Boron-Doped Polycrystalline Diamond Thin-Film Electrodes.
著者 (9件):
GRANGER M C
(Utah State Univ., Utah)
,
WITEK M
(Utah State Univ., Utah)
,
XU J
(Utah State Univ., Utah)
,
WANG J
(Utah State Univ., Utah)
,
KOPPANG M D
(Univ. South Dakota, South Dakota)
,
BUTLER J E
(Naval Res. Lab., Washington, D.C.)
,
LUCAZEAU G
(UJF, Saint Martin d’Heres, FRA)
,
STROJEK J W
(Silesian Technical Univ., Gliwice, POL)
,
SWAIN G M
(Utah State Univ., Utah)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
72
号:
16
ページ:
3793-3804
発行年:
2000年08月15日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)