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著者 (4件)：
資料名：
巻： 313/314 ページ： 814-818 発行年： 1998年02月
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902131737960454
整理番号：98A0553880
一般化偏光解析法による二軸伸長させたプラスチック膜の特性評価
Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry.
ELMAN J F
(Eastman Kodak Co., NY, USA)
,
GREENER J
(Eastman Kodak Co., NY, USA)
,
HERZINGER C M
(J.A. Woollam Co., NE, USA)
,
JOHS B
(J.A. Woollam Co., NE, USA)
資料名：
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻： 313/314 ページ： 814-818 発行年： 1998年02月
JST資料番号： B0899A ISSN： 0040-6090 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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