文献
J-GLOBAL ID:200902133556513068
整理番号:93A0395572
100keV電子ビームリソグラフィーとポリメタクリル酸メチルレジストを用いたシリコンの5~7nm幅エッチ細線の作製
Fabrication of 5-7nm wide etched lines in silicon using 100keV electron-beam lithography and polymethylmethacrylate resist.
著者 (2件):
CHEN W
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
,
AHMED H
(Cavendish Lab., Cambridge, GBR)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
13
ページ:
1499-1501
発行年:
1993年03月29日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)