文献
J-GLOBAL ID:200902134279251790
整理番号:99A0836913
CR-39の飛跡感度及び表面粗さの原子間力顕微鏡による測定
Track sensitivity and the surface roughness measurements of CR-39 with atomic force microscope.
著者 (6件):
YASUDA N
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
YAMAMOTO M
(National Inst. Radiological Sci., Chiba, JPN)
,
AMEMIYA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
TAKAHASHI H
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KYAN A
(Ibaraki Univ., Ibaraki, JPN)
,
OGURA K
(Nihon Univ., Chiba, JPN)
資料名:
Radiation Measurements
(Radiation Measurements)
巻:
31
号:
1/6
ページ:
203-208
発行年:
1999年06月
JST資料番号:
H0649A
ISSN:
1350-4487
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)