文献
J-GLOBAL ID:200902134282421648
整理番号:99A0563486
1MHz~3GHz磁性薄膜パーミアンスメータの雑音解析
Noise analysis of a 1MHz-3GHz magnetic thin film permeance meter.
著者 (6件):
YABUKAMI S
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
YAMAGUCHI M
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
ARAI K I
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
WATANABE M
(Ryowa Electronics Corp., Ltd., Sendai, JPN)
,
ITAGAKI A
(Ryowa Electronics Corp., Ltd., Sendai, JPN)
,
ANDO H
(Ryowa Electronics Corp., Ltd., Sendai, JPN)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
85
号:
8, Pt.2A
ページ:
5148-5150
発行年:
1999年04月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)