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資料名：
巻： 74 号： 19 ページ： 2863-2865 発行年： 1999年05月10日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902135568008434
整理番号：99A0525641
超伝導量子干渉素子を使った半導体ウエハにおける光生成電流の磁気的検出
Magnetic detection of photogeberated currents in semiconductor wafers using superconducting quantum interference devices.
BEYER J
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
,
MATZ H
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
,
DRUNG D
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
,
SCHURIG T
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Berlin, DEU)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 74 号： 19 ページ： 2863-2865 発行年： 1999年05月10日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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