文献
J-GLOBAL ID:200902135581806307
整理番号:98A0244865
ナノグラムレベルでの標準物質候補の均一性評価に用いる電子プローブX線微量分析
Electron Probe X-ray Microanalysis for the Assessment of Homogeneity of Candidate Reference Materials at the Nanogram Level.
著者 (4件):
HOORNAERT S
(Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL)
,
TREIGER B
(Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL)
,
VALKOVIC V
(Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL)
,
VAN GRIEKEN R
(Univ. Antwerpen(UIA), Antwerpen, BEL)
資料名:
Microchimica Acta
(Microchimica Acta)
巻:
128
号:
3/4
ページ:
207-213
発行年:
1998年
JST資料番号:
D0076A
ISSN:
0026-3672
CODEN:
MIACAQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オーストリア (AUT)
言語:
英語 (EN)