文献
J-GLOBAL ID:200902136126180170
整理番号:99A0614394
摩擦信号の波形解析による顕微引かき試験における金属薄膜の付着失敗の確実な検出
Unambiguous detection of the adhesive failure of metal films in the microscratch test by waveform analysis of the friction signal.
著者 (3件):
BABA S
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
,
MIDORIKAWA T
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
,
NAKANO T
(Seikei Univ., Tokyo, JPN)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
144/145
ページ:
344-349
発行年:
1999年04月
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)