文献
J-GLOBAL ID:200902137558742426
整理番号:00A0053991
SiTiCf/C/TiAl複合材の界面域の透過電子顕微鏡による断面キャラクタリゼーション
Cross-sectional characterization of the interfacial zone of SiTiCf/C/TiAl composites by transmission electron microscope.
著者 (4件):
SUZUKI T
(National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN)
,
GUO X-L
(National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN)
,
UMEHARA H
(National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN)
,
TERAUCHI S
(National Inst. Materials and Chemical Res., Ibaraki, JPN)
資料名:
Journal of Materials Science Letters
(Journal of Materials Science Letters)
巻:
18
号:
22
ページ:
1799-1801
発行年:
1999年11月15日
JST資料番号:
D0919B
ISSN:
0261-8028
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)