文献
J-GLOBAL ID:200902139079233307
整理番号:01A0823401
ヘキサメチルジシランを使いSi基板に成長したヘテロエピタキシャル3C-SiCの深い準位の研究
Deep Level Study in Heteroepitaxial 3C-SiC Grown on Si by Hexamethyldisilane.
著者 (7件):
KATO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
ICHIMURA M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
ARAI E
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
,
MASUDA Y
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
CHEN Y
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
NISHINO S
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
,
TOKUDA Y
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
40
号:
8
ページ:
4943-4947
発行年:
2001年08月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)