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文献
J-GLOBAL ID:200902139079233307   整理番号:01A0823401

ヘキサメチルジシランを使いSi基板に成長したヘテロエピタキシャル3C-SiCの深い準位の研究

Deep Level Study in Heteroepitaxial 3C-SiC Grown on Si by Hexamethyldisilane.
著者 (7件):
KATO M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
ICHIMURA M
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
ARAI E
(Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN)
MASUDA Y
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
CHEN Y
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
NISHINO S
(Kyoto Inst. Technol., Kyoto, JPN)
TOKUDA Y
(Aichi Inst. Technol., Toyota, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 40  号:ページ: 4943-4947  発行年: 2001年08月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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