文献
J-GLOBAL ID:200902139578357858
整理番号:02A0501704
ストレス誘起漏れ電流における捕獲中心密度に依存する非弾性トンネリング
Trap Density Dependent Inelastic Tunneling in Stress-Induced Leakage Current.
著者 (4件):
UNO S
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
DEGUCHI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KAMAKURA Y
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TANIGUCHI K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
41
号:
4B
ページ:
2645-2649
発行年:
2002年04月30日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)