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文献
J-GLOBAL ID:200902140405964439   整理番号:93A0401599

パラレルラインを用いた高周波透磁率測定

System for Measuring Thin-Film Permeabilty by Using a Parallel Line.
著者 (8件):
木村卓也
(アモルファス・電子デバイス研)
三寺正雄
(アモルファス・電子デバイス研)
寺坂正二
(アモルファス・電子デバイス研)
野瀬正照
(アモルファス・電子デバイス研)
松本文夫
(アモルファス・電子デバイス研)
松木英敏
(東北大 工)
藤森啓安
(東北大 金材研)
増本健
(東北大 金材研)

資料名:
日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)

巻: 17  号:ページ: 497-502  発行年: 1993年04月 
JST資料番号: Z0944A  ISSN: 0285-0192  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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