文献
J-GLOBAL ID:200902140838782343
整理番号:01A0559307
光電子放出とKelvinプローブ法によるTPD/金属界面の電子構造の評価
Electronic structures of TPD/metal interfaces studied by photoemission and Kelvin probe method.
著者 (6件):
ITO E
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
OJI H
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
HAYASHI N
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ISHII H
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
OUCHI Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SEKI K
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
175/176
ページ:
407-411
発行年:
2001年05月15日
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)