文献
J-GLOBAL ID:200902141073196560
整理番号:02A0058586
極端紫外リソグラフィー用の化学増幅を利用した表面シリル化単層レジスト II 液相からのSi化合物の制限された透過
A Surface-Silylated Single-Layer Resist Using Chemical Amplification for Deep Ultraviolet Lithography: II. Limited Permeation of Si Compounds from Liquid Phase.
著者 (6件):
SUGITA K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
YAMASHITA M
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
LIEW C M
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
HARADA K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
KUSHIDA M
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
,
SAITO K
(Chiba Univ., Chiba, JPN)
資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻:
40
号:
11
ページ:
6658-6662
発行年:
2001年11月15日
JST資料番号:
G0520B
ISSN:
0021-4922
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)