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文献
J-GLOBAL ID:200902142936853871   整理番号:98A0611054

モワレ干渉法における位相シフト解析とその電子パッケージングへの応用

Phase-shifting analysis in moire interferometry and its applications in electronic packaging.
著者 (4件):
HE X
(Wayne State Univ., Michigan)
ZOU D
(Wayne State Univ., Michigan)
LIU S
(Wayne State Univ., Michigan)
GUO Y
(Motorola Semiconductor Products Sector, Arizona)

資料名:
Optical Engineering  (Optical Engineering)

巻: 37  号:ページ: 1410-1419  発行年: 1998年05月 
JST資料番号: B0577B  ISSN: 0091-3286  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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