文献
J-GLOBAL ID:200902142936853871
整理番号:98A0611054
モワレ干渉法における位相シフト解析とその電子パッケージングへの応用
Phase-shifting analysis in moire interferometry and its applications in electronic packaging.
著者 (4件):
HE X
(Wayne State Univ., Michigan)
,
ZOU D
(Wayne State Univ., Michigan)
,
LIU S
(Wayne State Univ., Michigan)
,
GUO Y
(Motorola Semiconductor Products Sector, Arizona)
資料名:
Optical Engineering
(Optical Engineering)
巻:
37
号:
5
ページ:
1410-1419
発行年:
1998年05月
JST資料番号:
B0577B
ISSN:
0091-3286
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)