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著者 (3件)：
資料名：
巻： E85-D 号： 10 ページ： 1558-1563 発行年： 2002年10月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902143173113932
整理番号：02A0816562
VLSIのテストと検証 EB検査パッド法とその実機テストによる評価
Test and Verification of VLSI. EB-Testing-Pad Method and Its Evaluation by Actual Devices.
KUJI N
(NTT Electronics Corp., Atsugi-shi, JPN)
,
ISHIHARA T
(NTT Corp., Atsugi-shi, JPN)
,
NAKAJIMA S
(NTT Electronics Corp., Atsugi-shi, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E85-D 号： 10 ページ： 1558-1563 発行年： 2002年10月01日
JST資料番号： L1371A ISSN： 0916-8532 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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