文献
J-GLOBAL ID:200902145133855335
整理番号:99A0495876
新しい200kVオームフィルタの電子顕微鏡
A new 200kV Ω-filter electron microscope.
著者 (7件):
TANAKA M
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TSUDA K
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TERAUCHI M
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
TSUNO K
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
KANEYAMA T
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
HONDA T
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
,
ISHIDA M
(JEOL Ltd., Tokyo, JPN)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
194
号:
1
ページ:
219-227
発行年:
1999年04月
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)