文献
J-GLOBAL ID:200902145519168901
整理番号:95A0141777
SEMおよびTEMを用いた接着界面の微小漏洩に関する研究
SEM and TEM Study on Nanoleakage Pathway at the Adhesive Interface.
著者 (9件):
佐野英彦
(東京医歯大 歯)
,
吉山昌宏
(徳島大 歯)
,
西田裕威
(東京医歯大 歯)
,
恵比須繁之
(徳島大 歯)
,
高津寿夫
(東京医歯大 歯)
,
CIUCCHI B
(Univ. Geneva Dental School, Gen<span style=text-decoration:overline>e`</span>ve, CHE)
,
HORNER J A
(Eisenhower Army Medical Center, Georgia, USA)
,
CARVALHO R M
(Medical Coll. Georgia, Georgia, USA)
,
PASHLEY D H
(Medical Coll. Georgia, Georgia, USA)
資料名:
日本歯科保存学雑誌
(Japanese Journal of Conservative Dentistry)
巻:
37
号:
6
ページ:
1686-1693
発行年:
1994年12月
JST資料番号:
Y0096A
ISSN:
0387-2343
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)