文献
J-GLOBAL ID:200902145583649727
整理番号:00A0726012
酸化物薄膜の再現性あるスイッチング効果とメモリへの応用
Reproducible switching effect in thin oxide films for memory applications.
著者 (5件):
BECK A
(IBM Res., Rueschlikon, CEH)
,
BEDNORZ J G
(IBM Res., Rueschlikon, CEH)
,
GERBER C
(IBM Res., Rueschlikon, CEH)
,
ROSSEL C
(IBM Res., Rueschlikon, CEH)
,
WIDMER D
(IBM Res., Rueschlikon, CEH)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
77
号:
1
ページ:
139-141
発行年:
2000年07月03日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)