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著者 (2件)：
資料名：
巻： 13th ページ： 75-78 発行年： 2001年
JST資料番号： W1300A ISSN： 1943-653X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902147141734043
整理番号：01A1035747
電力施設におけるパワー半導体デバイスの新しいモニタ法と長期信頼性評価
Novel Monitoring Method and Long-term Reliability Evaluation of Power Semiconductor Devices in Power Utilities.
HORIUCHI T
(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN)
,
SUGAWARA Y
(Kansai Electric Power Co., Inc., Hyogo Prefecture, JPN)
資料名：
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs
(Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs)
巻： 13th ページ： 75-78 発行年： 2001年
JST資料番号： W1300A ISSN： 1943-653X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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