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文献
J-GLOBAL ID:200902148420983831   整理番号:01A0212498

電子ビームリソグラフィーにおけるレジスト断面プロファイルの自動ドーズ最適化システム

Automatic Dose Optimization System for Resist Cross-Sectional Profile in a Electron Beam Lithography.
著者 (5件):
HIRAI Y
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
KIKUTA H
(Osaka Prefecture Univ., Osaka, JPN)
OKANO M
(Osaka Sci. and Technol. Center, Osaka, JPN)
YOTSUYA T
(Osaka Sci. and Technol. Center, Osaka, JPN)
YAMAMOTO K
(Nalux Co. Ltd., Osaka, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 39  号: 12B  ページ: 6831-6835  発行年: 2000年12月30日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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