文献
J-GLOBAL ID:200902148456580938
整理番号:96A0328679
化学的に増幅された電子ビームフォトレジスト
Chemically Amplified Electron-Beam Photoresists.
著者 (2件):
CRIVELLO J V
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
,
SHIM S-Y
(Rensselaer Polytechnic Inst., New York)
資料名:
Chemistry of Materials
(Chemistry of Materials)
巻:
8
号:
2
ページ:
376-381
発行年:
1996年02月
JST資料番号:
T0893A
ISSN:
0897-4756
CODEN:
CMATEX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)