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文献
J-GLOBAL ID:200902149926143692   整理番号:00A0382753

短時間の微小重力下のホットディスク法による溶融けい素の熱伝導率の測定

Thermal Conductivity Measurement of Molten Silicon by a Hot-Disk Method in Short-Duration Microgravity Environments.
著者 (7件):
NAGAI H
(Hokkaido National Industrial Res. Inst. (HNIRI), Sapporo, JPN)
NAKATA Y
(Hokkaido National Industrial Res. Inst. (HNIRI), Sapporo, JPN)
TSURUE T
(Hokkaido National Industrial Res. Inst. (HNIRI), Sapporo, JPN)
MINAGAWA H
(Hokkaido National Industrial Res. Inst. (HNIRI), Sapporo, JPN)
KAMADA K
(Japan Space Utilization Promotion Center, (JSUP), Tokyo, JPN)
GUSTAFSSON S E
(Chalmers Inst. Technol., Grthenburg, SWE)
OKUTANI T
(Hokkaido National Industrial Res. Inst. (HNIRI), Sapporo, JPN)

資料名:
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers  (Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)

巻: 39  号: 3A  ページ: 1405-1408  発行年: 2000年03月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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