文献
J-GLOBAL ID:200902152003094134
整理番号:93A0615215
タッピングモード原子間力顕微鏡による断片化高分子/シリカファイバ表面の研究
Fractured polymer/silica fiber surface studied by tapping mode atomic force microscopy.
著者 (4件):
ZHONG Q
(AT & T Bell Lab., NJ, USA)
,
INNISS D
(AT & T Bell Lab., NJ, USA)
,
KJOLLER K
(Digital Instruments, CA, USA)
,
ELINGS V B
(Digital Instruments, CA, USA)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
290
号:
1/2
ページ:
L688-L692
発行年:
1993年06月10日
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)