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著者 (5件)：
資料名：
巻： 142 号： 1/4 ページ： 38-42 発行年： 1999年04月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902153328538914
整理番号：99A0535040
走査型トンネル顕微鏡で調べたSi(100)のビスマス誘起表面構造
Bismuth-induced surface structure of Si(100) studied by scanning tunneling microscopy.
NAITOH M
(Kyushu Inst. Technol., Kitakyushu, JPN)
,
SHIMAYA H
(Kyushu Inst. Technol., Kitakyushu, JPN)
,
NISHIGAKI S
(Kyushu Inst. Technol., Kitakyushu, JPN)
,
OISHI N
(Kumamoto National Coll. Technol., Kumamoto, JPN)
,
SHOJI F
(Kyushu Kyoritsu Univ., Kitakyushu, JPN)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 142 号： 1/4 ページ： 38-42 発行年： 1999年04月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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