文献
J-GLOBAL ID:200902153750055420
整理番号:98A0591468
構成可能LUTベースFPGA試験
Testing Configurable LUT-Based FPGA’s.
著者 (4件):
HUANG W K
(Fudan Univ., Shanghai, CHN)
,
MEYER F J
(Texas A&M Univ., TX, USA)
,
CHEN X-T
(Lucent Technol., PA, USA)
,
LOMBARDI F
(Texas A&M Univ., TX, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
6
号:
2
ページ:
276-283
発行年:
1998年06月
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)