文献
J-GLOBAL ID:200902153797117105
整理番号:00A0422560
ポリSi MOS反転層においてゲート電圧を高くしたときホッピング輸送から拡散輸送へのクロスオーバ
Crossover from Hopping to Diffusive Transport with Increasing Gate Voltage in Poly-Si MOS Inversion Layer.
著者 (5件):
ISHIDA S
(Sci. Univ. Tokyo in Yamaguchi, Yamaguchi, JPN)
,
OTO K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAKAOKA S
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
MURASE K
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SERIKAWA T
(NTT Electronics Corp., Kanagawa, JPN)
資料名:
Physica Status Solidi. B. Basic Research
(Physica Status Solidi. B. Basic Research)
巻:
218
号:
1
ページ:
89-92
発行年:
2000年03月01日
JST資料番号:
C0599A
ISSN:
0370-1972
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)