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資料名：
巻： 97 号： 374(MW97 114-126) ページ： 27-30 発行年： 1997年11月14日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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文献
J-GLOBAL ID：200902154967092214
整理番号：98A0095720
50GHz帯における空洞共振器法による誘電体平板の複素誘電率の温度依存性の測定
Temperature dependence measurements of complex permittivity of dielectric plates at 50GHz by the cavity resonance method.
中岡奨
(埼玉大 工)
,
ZHANG S
(埼玉大 工)
,
小林よし夫
(埼玉大 工)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 97 号： 374(MW97 114-126) ページ： 27-30 発行年： 1997年11月14日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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