文献
J-GLOBAL ID:200902156138207481
整理番号:97A0137472
Pd/a-Si:H積層膜における界面反応とシリサイドの形成機構
Interfacial Reaction and Silicide Formation in Pd/a-Si:H Layered Films.
著者 (5件):
本間和明
(東京電機大 工)
,
小池徹
(東京電機大 工)
,
安藤伸一
(東京電機大 工)
,
安達久美
(東京電機大 工)
,
本橋光也
(東京電機大 工)
資料名:
電子情報通信学会論文誌 C-2
(Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers. C-2)
巻:
79
号:
12
ページ:
721-730
発行年:
1996年12月
JST資料番号:
L0196A
ISSN:
0915-1907
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)