文献
J-GLOBAL ID:200902156550202931
整理番号:01A0039801
DRAMのフィールドプログラマブル補修用アンチフューズEPROM回路設計
An Antifuse EPROM Circuitry Scheme for Field-Programmable Repair in DRAM.
著者 (7件):
WEE J-K
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
,
YANG W
(Harvard Univ., MA, USA)
,
RYOU E-K
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
,
CHOI J-S
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
,
AHN S-H
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
,
CHUNG J-Y
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
,
KIM S-C
(Hyundai Electronics Company Ltd., Kyoungki-Do, KOR)
資料名:
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻:
35
号:
10
ページ:
1408-1414
発行年:
2000年10月
JST資料番号:
B0761A
ISSN:
0018-9200
CODEN:
IJSCBC
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)