文献
J-GLOBAL ID:200902156789300960
整理番号:99A0969681
ラザフォード後方散乱分光法と走査型トンネル顕微鏡法の併用によるY-Ba-Cu-O薄膜とMgO基板間の相互拡散の研究
Study of interdiffusion between thin Y-Ba-Cu-O films and MgO substrates by applying Rutherford backscattering spectrometry combined with scanning tunneling microscopy.
著者 (5件):
FUJINO Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
IGARASHI Y
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
YAMAURA S
(Tohoku Univ., Sendai, JPN)
,
SUZUKI N
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
,
IIMURA K
(Utsunomiya Univ., Utsunomiya, JPN)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films
(Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films)
巻:
17
号:
5
ページ:
2962-2968
発行年:
1999年09月
JST資料番号:
C0789B
ISSN:
0734-2101
CODEN:
JVTAD6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)