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著者 (4件)：
資料名：
巻： 35 号： 9A ページ： 4595-4598 発行年： 1996年09月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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文献
J-GLOBAL ID：200902156856529365
整理番号：96A0902362
(AlXGa1-X)0.52In0.48P薄膜成長時の実時間偏光解析測定
Real-Time Ellipsometric Measurement during Growth of (AlxGa1-x)0.52In0.48P Thin Films.
YOSHIOKA Y
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
HASHIMOTO T
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
SHIGESADA Y
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
,
YOSHIDA T
(Shimadzu Corp., Kyoto, JPN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 35 号： 9A ページ： 4595-4598 発行年： 1996年09月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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